나노소재의 특성에 따른 측정법을 분류·분석한다. 각종 측정법에 따른 특성 분석 및 평가기술을 설계하고 문서화 한다. XRD(엑스선회절분석기), EELS(전자에너지손실분광법), EDX(형광엑스선분석법), TEM(투사전자현미경), SEM(주사전자현미경), 측정 자동화 프로그램 등 측정·평가 장비를 운용한다. 측정 절차에 따라 측정을 진행하고 측정된 데이터를 분석한다. 측정평가 방법의 표준화 절차를 수행하고 매뉴얼을 작성한다. 측정·평가 기술을 개선한다.
